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Christina VILLENEUVE

PARIS

Electionseuropéennes 2024

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En résumé

Mes compétences :
MEMS
Métrologie
Microélectronique
Optique
Semiconducteur
Spectroscopie

Entreprises

  • SAGEM - Stage ouvrier (2mois)

    PARIS maintenant

  • Laboratoire Laplace - Maitre de Conférence

    2011 - maintenant Recherche : Etude des charges dans les isolants par microscopie à Force Atomique (modes électriques)
    Enseignements : Université Paul Sabatier - Filière EEA

  • LAAS-CNRS - Post-Doctorat

    2007 - 2011 Mon activité concerne le développement et l'optimisation des procédés des MEMS (Micro ElectroMechanical Systems) pour les applications RF. Mon activité est plus particulièrement consacrée aux switch RF. J'intervient au niveau de l'amélioration structurale et mécanique des systèmes MEMS mais également au niveau de leur caractérisation.

  • SOITEC - Ingénieur R&D

    Bernin 2004 - 2007 Au sein du service R&D de SOITEC j'occupe un poste d'ingénieur métrologie spécialisée en spectroscopie optique (Raman).
    Ma mission est le développement de procédure de caractérisation en lien avec le développement de substrats innovants pour la microélectronique (SOI : semiconductors-On-Insulator). Mes activités sont relatives à :
    • Imagerie optique et spectroscopique : imagerie de structures micrométriques pour la microélectronique (état de contrainte, composition d’alliages…)
    - Couplage microscopie optique et spectroscopique : optimisation de la résolution.
    • Développement d’une méthode de caractérisation non destructive des défauts d’implantation d’ions légers (hydrogène/hélium) dans des semiconducteurs .
    - Validation de la méthode (dispositif expérimental et logiciel), rédaction de notices, brevet.
    - Utilisations : Optimisation du procédé industriel et mesures en ligne, compréhension des phénomènes physiques.
    • L'étude structurale de semiconducteurs (composition alliages, endommagement, déformation...).

    Compétences acquises :
    * Méthode de caractérisation : - Spectrométrie Raman visible/UV.
    - microscopie optique, AFM.
    * Techniques expérimentales: - Spectrométrie optique
    - Lasers visible et ultra-violet (fonctionnement, normes, sécurité).
    - Techniques du vide et cryogénie.
    * Modélisation numérique: MatLAb
    * Propriété intellectuelle et brevet. Veille technologique.
    * Hygiène et sécurité : - Sécurité laser.
    - Environnement salle blanche.

  • SOITEC - Stage de fin d'étude (6 mois)

    Bernin 2004 - 2004 Développement de la caractérisation en ligne des substrats de type SOI (Semiconductor On Insulator) par spectrométrie Raman : contrainte et composition.
    - Environnement salle blanche, test de validation d’un nouvel équipement,…
    - Formation d’opérateurs, rédaction de documents utilisateurs.

  • ULIS - Stage asistant ingénieur (3 mois)

    2003 - 2003 Stage assistant ingénieur à ULIS (SOFRADIR Group, Veurey-Voroise (38)). Etude par Microscopie Electronique à Balayage (MEB) du problème « colonnes bruyantes adjacentes » sur les matrices de détecteurs infrarouges : origine et solution au problème.

    Compétences acquises :
    - connaissances en détecteurs infra-rouge
    - méthode de caractérisation de surface : MEB, profilométrie

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