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Gerard LAUGIER

GEMENOS

En résumé

Vaste expérience sur les équipements de test automatique et de laboratoire afin de réduire les coûts de production avec une forte adaptabilité et une grande capacité à résoudre les problèmes complexes.

Spécialités :
-Recommandations de design pour le Test de circuits intégrés.
-Circuits électroniques entant dans les domaines de télécommunications et automobiles.
-Plans de caractérisation et de test de production.
-Définitions des interfaces de test (PCB, cartes à pointes).
-Ecriture de Programme test à l'aide d'environnement d’intégration continue de type clearcase (langage testeur, Pascal, C, basic)
-Caractérisation des circuits intégrés en fonction des paramètres de process à l'aide d'outils statistiques (spotfire, Excel)
-Débogage (design, règle de design, paramètres de process, interface, équipement de test, conditions de test et code).
- Réduction de coût par analyse statistique. Réductions des temps de test avec accroissement de la qualité.
-Aide a la Qualification du produit et support technique clientèle.
-Expérience de travail internationale, collaboration multiculturelle.
-Formation de plusieurs Ingénieurs débutants ainsi que de stagiaires.
-Amélioration continue de la qualité des produits.


Mes compétences :
Planification
Amélioration continue
Programmation
Debogage de test
Réduction des coûts
Travail en équipe
Autonomie
Tutorat
Qualité

Entreprises

  • Infineon Technologies - Consultant Senior Test Engineer

    GEMENOS 2017 - maintenant Senior Test Engineer on J750

  • Melexis - Consultant Ingenieur Test

    Ypres 2015 - 2015 Transfert de programme de test C/C++de produits automobiles sur une nouvelle plateforme

  • Texas Instruments - Ingénieur Test et Produit confirmé

    Villeneuve-Loubet 2011 - 2013 En charge de définir la méthodologie puis de coordonnée le débogage de test avec l'équipe de design basée en Inde et l'équipe d'ingénierie test et produit basé a Villeneuve-Loubet, puis d’optimiser les rendements au cours de la montée en production de OMAP4 (plate-forme d'Applications multimédia en 45 nm).
    Après transfert de OMAP4 à l'équipe américaine, rejoint une équipe multiculturelle sur une « task force » en charge de déterminer la raison d'un problème critique et complexe sur OMAP5 28nm ayant été résolu avec succès.

  • Texas Instruments - Ingenieur Test et Produit confirmé

    Villeneuve-Loubet 2002 - 2011 Leader au sein de différentes équipes d'ingénieurs débutants du démarrage jusqu’à la production a très bas coût mais de grande qualité de test de plusieurs circuits intégrés modem bande vocale évoluant avec les différents nœuds de technologie pour Nokia.

  • Texas Instruments - Ingénieur Test et Produit

    Villeneuve-Loubet 1998 - 2002 En charge des recommandations DesignForTest jusqu’à la montée en volume de la production de l'ensemble des produits Asic entrant dans des applications bluetooth de Nokia
    Co-inventor of US6911834B2 patent “Multiple contact vertical probe solution enabling Kelvin connections”

  • Texas Instruments - Ingenieur Test et produit

    Villeneuve-Loubet 1998 - 1998 En charge du transfert des connaissances de test des microcontrôleurs ABS automobiles Européen (Teves) ainsi que de la mise en production de 2 microcontrôleurs audio automobile (Ford) en tant qu'expatrié a Houston.

  • Texas Instruments - Ingenieur Test et produit

    Villeneuve-Loubet 1996 - 1997 En charge de l'écriture/validation/mise en production en assembleur 8 et 16 bits des différents codes utilisés dans le déverminage des microcontrôleur automobiles Européen.
    Écriture et débogage de programme de tests pour test sous pointes.

  • Texas Instruments - Ingenieur Test et produit

    Villeneuve-Loubet 1993 - 1995 En charge de réductions de coût de test ainsi que du suivi de production de convertisseurs delta sigma destiné a Ericsson.
    En charge du démarrage jusqu’à la montée en volume en tant que seconde sources de produits téléphoniques SLIC haute tension Ericsson.
    Suivi de production en parallèle de produit automobile, télécommunication, carte a puce ainsi que de caractérisation de mémoires EPROM, EEPROM.

  • Texas Instruments - Technicien developement

    Villeneuve-Loubet 1990 - 1992 En charge de la caractérisation de la charge et la décharge de différentes batteries , du développement de différents modules entrant dans un nouveau circuit de supervision de charge de batterie ainsi que du développement d'une carte assurant le fonctionnement de ce nouveau circuit puis d'une transition sur produit FPGA programmable Xilinx.

  • Texas Instruments - Technien Test et Produit

    Villeneuve-Loubet 1984 - 1989 Technicien en charge de caractérisation sur banc de test puis de suivi de production de circuit téléphonique Dual Tone multi frequency, ringer, puis en parallèle en charge de l'écriture de programme de test ainsi que de la production de ringer, DTMF, modem, codec, filtre.

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