PALAISEAU
RETROUVEZ GRATUITEMENTLe résultat des européennes à Palaiseau ainsi que le résultat des européennes en Essonne.
De formation Bac+5 universitaire en physique-chimie, je suis spécialisée dans l'analyse microstructurale des matériaux.
Je suis Ingénieur d'étude au sein du CNRS depuis janvier 2011. Mon poste est actuellement basé à l'ENS (Ecole Normale Supérieure de PARIS). Ma mission consiste à adapter et de mettre en œuvre des techniques de micro-nano fabrications ainsi que les caractérisations associées dans des études µfluidiques. Je veille également au bon fonctionnement et de la maintenance d’une salle blanche et de son parc instrumental.
J'ai travaillé pendant 6 ans dans une start-up du domaine des couches minces pour des applications en microélectronique et en biomédical. J'ai été responsable du laboratoire d'analyse de cette société (TOF-SIMS, XPS, SEM-EDX, Ellipso, etc...)
J'ai également une expérience de 5 ans en analyse de défaillance et en fiabilité des composants optoélectroniques à ALCATEL (Laser pompe).
Mes domaines majeurs de compétences :
> > Optoélectronique (Spécialisation laser pompe)
> > Microélectronique (TSV, Interconnect)
> > Biomédical (implants cardiovasculaires)
> > µfluidique
Mes principales fonctions :
> > Responsable d’un laboratoire d’analyse matériaux,
> > Chef de projets en caractérisation matériaux,
> > Participation aux études de projets (conception, > > réalisation, recettes, industrialisation),
> > Mise en place de formations.
Mes compétences techniques :
> > en Techniques de Nano- Fabrication
−Lithographie : Optical UV (contact, projection), Scan focused beam (e-beam, laser), Nanoimprint, UV imprint, Soft lithography
−Couches minces : Epitaxie (MOCVD), CVD (PECVD sous ultra vide), dépôts PVD (Sputter, Electron beam), Electrochimie, chimie greffage.
−Gravure sèche ICP, RIE
> > en Analyses matériaux
− SIMS, TOF-SIMS (Time of Flight), XPS
- microscopie électronique à balayage (MEB) avec étude du courant d’échantillon (EBIC), du signal Cathodoluminescence (CL), du signal X (EDX), du signal des électrons rétrodiffussés (BSE), du signal des électrons transmis (STEM), notion de la diffraction des électrons rétrodiffusés (EBSD).
- microscopie en champ proche (AFM-STM)
- microscopie optique (avec analyse d’image), à fluorescence
- microscopie confocale à balayage laser
− Ellipsométrie spectroscopique et mesure CTE,
- Profilomètrie
−Diffraction des Rayons X
−Photoluminescence
−Analyse de Spectroscopie Infrarouge (FTIR), UV, Raman, interférentielle
−Mesures électriques : Effet Hall, Photocourant, C(V)/I(V)/P(I)
Je reste à votre disposition pour tous renseignements complémentaires.
Mes compétences :
Afm
Biomédical
Chef de Projets
Couches minces
CVD
EDX
Électrochimie
ellipsométrie
Epitaxie
Lithographie
matériaux
Microélectronique
Optoélectronique
Pvd
Salle Blanche
SEM
XPS
